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首页 > 产品展示 > 德国菲希尔FISCHER > Fischer x-ray荧光测厚仪
xdlm 237 -菲希尔x射线荧光测厚仪代理 有三个型号：XDLM 231具有平面支撑台，XDLM 232具有手动操作的X / Y台。 XDLM 237配备了一个电动X / Y平台，当打开防护罩时，该平台会自动移到装载位置。
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无损镀银测厚仪 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射线荧光光谱法（EDXRF）作为镀层厚度测量和材料分析的方法，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境中，这一方法都能完美胜任，并还可以与现代化设备一起发挥作用。
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*费希尔x-ray xan x射线荧光测量仪 X-RAY XAN 220是一种优化的X射线荧光测量仪器，用于珠宝、硬币和贵金属的无损分析。它特别适合分析贵金属及其合金的成分和涂层厚度。在氯（17）到铀（92）范围内可同时测定多达24种元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。
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XDAL237 X射线荧光测厚仪 凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。在设计上，FISCHERSCOPE XRAY XDAL型仪器和XDLM型仪器相对应。
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xan500fischer德国* 手持式、台式、在线： XAN®500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。
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便携式x射线测厚仪* XAN®500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。在配备了平板电脑后，XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析，还能测量镀层厚度，并可实现无校准（不需标准片）测量。
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德国FISCHER公司X-RAY荧光测厚仪 HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。 通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了新的软件和硬件技术，FISCHER 公司的X射线仪器具有其*的特点
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德国Fischer x射线测厚仪 XULM 240代理 XULM特别适合测量细小的部件如连接器，触点或线，也可以测量印刷线路板上的Au，Ni和Cu镀层厚度。即使80nm的很薄的金镀层也可以用测量点为Ø0.25mm的准直器测量，20秒的重复精度可达2.5nm。
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Fischerscope x-ray xan120荧光x射线测厚仪 但是，如果合金中很多元素要测量或存在光谱重叠情况，那么配备半导体探测器的仪器，如XAN120，应该更加适合。由于具备非常好的分辨率，它也可以用来区分例如在牙合金中非常关键的金和铂以及融合的贵金属合金。
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x射线镀层与合金的材料分析仪 作为在生产测量中使用X射线荧光法的*驱，菲希尔很早就意识到此方法在镀层厚度测量和材料分析领域的巨大潜力，因而开始研发和制造工业级耐用的测量仪器
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德国菲希尔FISCHER
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