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Fischer薄膜測厚儀DualScope MP0儀器內(nèi)置探頭，采用磁感應和渦流方法，簡單、快速、無損地測量涂層厚度。磁導率、電導率和幾何形狀(曲率和厚度等。)的影響相對較小。新的DUALSCOPE MP0采用了廣泛認可的Fischer探針技術，這是一種小型儀器，可以在很大程度上滿足您的測量需求。它測量精度高，界面友好，經(jīng)久耐用。不復雜工件的現(xiàn)場測量尤其理想。內(nèi)置探頭，使用磁感應和渦流方法，可以快速和無損測量涂層厚度。DUALSCOPE MP0可自動識別鐵或鋁等基材，并選擇合適的測量方法。可以顯示重要的統(tǒng)計參數(shù)。由于其良好的重復性和統(tǒng)一的標準校準功能，該儀器在同類產(chǎn)品中脫穎而出。