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產品名稱：
 EPK（Elektrophysik）MiniTest2100測厚儀
發布時間：
 2024-09-01
產品品牌：
 ElektroPhysik/德國EPK
產品特點：
 德國EPK（Elektrophysik）公司MiniTest2100
德國EPK（Elektrophysik）公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；
　 EPK（Elektrophysik）MiniTest2100測厚儀的詳細資料：

德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest2100


德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；
     - 所有型號均可配所有探頭
     - 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機
     - 可使用一片或二片標準箔校準

型號及功能：

型號1100210031004100
MINITEST 存儲的數據量
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)111099
每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計，可設寬容度極限值)-11099
可用各自的日期和時間標識特性的組數-1500500
數據總量1100001000010000
MINITEST統計計算功能
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar-√√√
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk--√√
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar--√√
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk--√√
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據---√
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值--√√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間-√√√
其他功能
透過涂層進行校準(CTC)-√√√
在粗糙表面上作平均零校準√√√√
利用計算機進行基礎校準√√√√
補償一個常數(Offset)--√√
外設的讀值傳輸存儲功能-√√√
保護并鎖定校準設置√√√√
更換電池是存儲數值√√√√
設置極限值--√√
公英制轉換√√√√
連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別大小值--√√
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數--√√
浮點和定點方式數據傳送√√√√
組內單值延遲顯示-√√√
連續測量模式中顯示小值√√√√

可選探頭參數(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
N兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能

探頭量程低端
分辨率		誤差小曲率
半徑(凸/凹)		小測量
區域直徑		小基
體厚度		探頭尺寸
F050-500μm0.1μm±(1%+0.7μm)1/5mm3mm0.2mmφ15x62mm
F1.60-1600μm0.1μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F1.6/900-1600μm0.1μm±(1%+1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x170mm
F30-3000μm0.2μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F100-10mm5μm±(1%+10μm)5/16mm20mm1mmφ25x46mm
F200-20mm10μm±(1%+10μm)10/30mm40mm2mmφ40x66mm
F500-50mm10μm±(3%+50μm)50/200mm300mm2mmφ45x70mm
N020-200μm0.1μm±(1%+0.5μm)1/10mm2mm50μmφ16x70mm
N.08Cr0-80μm0.1μm±(1%+1μm)2.5mm2mm100μmφ15x62mm
N1.60-1600μm0.1μm±(1%+1μm)1.5/10mm2mm50μmφ15x62mm
N1.6/900-1600μm0.1μm±(1%+1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x170mm
N100-10mm10μm±(1%+25μm)25/100mm50mm50μmφ60x50mm
N200-20mm10μm±(1%+50μm)25/100mm70mm50μmφ65x75mm
N1000-100mm100μm±(1%+0.3mm)100mm/平面200mm50μmφ126x155mm
CN0210-200μm0.2μm±(1%+1μm)平面7mm無限制φ17x80mm
FN1.60-1600μm0.1μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mmF：0.5mm
N：50μm		φ15x62mm
FN1.6P0-1600μm0.1μm±(1%+1μm)平面30mmF：0.5mm
N：50μm		φ21x89mm
FN20-2000μm0.2μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mmF：0.5mm
N：50μm		φ15x62mm
注：F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

探頭圖示


FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭，特別適合測粉末狀的覆層厚度

F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm

F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層

F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等

F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等

F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板
產品相關關鍵字： 德國EPK MiniTest2100 Elektrophysik epk測厚儀
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