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SP25M高精度掃描測頭原理

現在為您介紹的是SP25M掃描系統。您可能還有興趣了解如何將SP25M集成到REVO掃描測頭中…

直徑僅為25 mm，配備一系列掃描及觸發模塊，SP25M是世界上*小型的多用途掃描測頭系統。

掃描測頭每秒能夠采集幾百個表面點，可以測量輪廓、尺寸和位置。掃描測頭也可用于采集離散點，與觸發式測頭類似。雷尼紹提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標測量機選用。

掃描原理

掃描測量提供了一種從規則型面工件或其他復雜工件上高速采集形狀和輪廓數據的方法。觸發式測頭可采集表面離散點，而掃描系統則可獲取大量的表面數據，提供更詳細的工件形狀信息。因此，在實際應用中如果工件形狀是整個誤差預算的重要考量因素或必須對復雜表面進行檢測，掃描測量可謂理想之選。掃描需要根本不同的傳感器設計、機器控制和數據分析方法。

雷尼紹掃描測頭*特色的輕巧無電源機構（無馬達或鎖定機構），具有高固有頻率，適合高速掃描測量。分離的光學測量系統直接（無需通過測頭機構中的疊加軸）測量測針的偏移量，以獲得更高的精度和更快的動態響應。

SP25M由兩個傳感器組成，包含在一個外殼中。用戶可從五個掃描模塊（可安裝長度從20 mm至400 mm的M3測針）中選擇任意一個，與轉接模塊（與雷尼紹的TP20系列測頭模塊兼容）進行切換。這一功能可實現在單個測頭系統中進行掃描和觸發測量。

SP25M小巧的尺寸和自動吸附安裝功能使之與PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M測座兼容。它還可安裝在自動吸附的多芯加長桿上。同時，這些組合具有的測觸能力，便于檢測各種零件特征。

SM25-1

與SH25-1配用

測針長度：20 mm至50 mm

SM25-2

與SH25-2配用

測針長度：50 mm至105 mm

SM25-3

與SH25-3配用

測針長度：120 mm至200 mm

SM25-4

與SH25-4配用

測針長度：220 mm至400 mm

SM25-5

與SH25-5配用，用于非直測針和星形測針組合

測針長度：20 mm至100 mm

TM25-20 TTP轉接模塊

與TP20觸發式模塊和加長桿配用